<button id="aeca4"></button>

賽可（SEC）X-RAY檢測設備SF160F/N Series

更新時間：2025-05-06

產品型號：X-eye SF160F/N Series

簡要描述：賽可（SEC）X-RAY檢測設備SF160F/N Series:用戶可通過需求選擇Dual CT功能(Oblique CT, Cone-beam CT)實現3次元（3D）影像中進行正確的分析出不良的種類，位置及大小。

企業實力
Enterprise Strength
有效保修
Valid Warranty
質量保障
Quality Assurance

產品咨詢

聯系我們

產品中心

PRODUCT CATEGORY

詳細介紹

    賽可（SEC）X-RAY檢測設備SF160F/NSeries簡介：

    1.X-RAYINSPECTIONSYSTEM：

    搭載高性能Micro-focusOpenTube(160kV)的高性能檢測設備，實現高分辨率、高倍率下分析不良缺陷。此外，用戶可通過需求選擇DualCT功能(ObliqueCT,Cone-beamCT)實現3次元（3D）影像中進行正確的分析出不良的種類，位置及大小。

    2.X-raySimple&Easy3DCT：

    1).半導體，電子產品，封裝等產品精密分析用非破壞性檢測設備（大型PCB可進行非破壞性CT分析）

    2).可搭載Option自動檢測S/W，通過手動裝料后的自動檢測，可實現產品全檢

    3).最大可實現550x650mm尺寸的產品不良檢測

    4).通過DualCT(ObliqueCT,Cone-beamCT)方式的3D檢測，提供高分辨率，高精度的分析檢測環境

    5).可搭載長壽命Filament，利于用戶使用便利性（可適用于量產檢測）

賽可（SEC）X-RAY檢測設備SF160F/NSeries等，歡迎咨詢上海賽可，我們為您提供賽可（SEC）X-RAY檢測設備的參數、價格、型號、原理等信息，賽可（SEC）X-RAY檢測設備SF160F/NSeries產地為韓國、品牌為賽可，歡迎大家咨詢。

產品咨詢

上一篇：X-eye SF160ER Series賽可（SEC）X-RAY檢測設備
下一篇：賽可(SEC)X-RAY檢測設備X-eye NF120 Series

賽可（SEC）X-RAY檢測設備SF160F/N Series

留言框

產品：

您的單位：

您的姓名：

聯系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：