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賽可(SEC)X-RAY檢測設備X-eye NF120 Series

更新時間：2025-06-09

產品型號：

簡要描述：賽可（SEC）X-RAY檢測設備X-eye NF120 Series廣泛應用于要求檢測Sub-micron單位不良的半導體封裝及Waffer level packaging（WLP)領域里。

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賽可（SEC）X-RAY檢測設備X-eye NF120 Series簡介：

該檢測設備搭載200納米的Nano-focus Tube，廣泛應用于要求檢測Sub-micron單位不良的半導體封裝及Waffer level packaging（WLP)領域里。通過大理石平臺和各個高精度驅動軸，可以更加精準的找到不良部位并且正確的分析不良問題。添加3D CT模塊可進行斷層分析，通過搭載Waffer handle(EFEM)裝置可自動裝卸Waffer，自動檢測，實現Full Auto全自動檢測的設備。

賽可（SEC）X-RAY檢測設備X-eye NF120 Series特點：

1.搭載自主研發生產的200nm級別開管式光管（Focal spot size Nano-focus open tube）

2.Wafer level工藝中，對TSV，Micro-bump，Cu pilar等產生的超細微不良進行自動檢測的優秀選擇

3.SEC*的3D CT用Auto Collimation 及 Filtering技術實現X-ray damage free（無損檢測）

4.安全檢測存儲半導體芯片

5.可同時兼容2D,3D自動檢測